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ST2500E高密度数?；旌闲藕挪馐曰惴河τ糜赟oC/MCU、FLASH、EEPROM、CIS、 AIoT、LED Driver、FPGA、Sensor等半导体晶圆、器件测试和?？橄低臣恫馐?。
ST2516高性能数字混合信号测试系统，可以实现32~320个数字通道灵活组合配置，实现最高机器利用率。对于特殊的测试需求，该系统还支持扩展更多的测试板卡及?？椋鏢MU、HRAWG、HRDGT、BlueTooth、WiFi等测试模块。
ST2564高性能数字混合信号测试系统可以广泛应用于S0C/MCU、FLASH、EEPROM、Logic、LED Driver、ClS、指纹芯片、PMIC、Bluetooth、WiFi、loT等半导体晶圆、器件测试和?？橄低臣恫馐?。
EN-3020B分立器件参数测试仪采用上位计算机控制，集点测试和曲线扫描为一体，可实现点参数测试和图示仪功能。软件操作界面友好智能，在 PC 窗口提示下输入被测器件的测试参数即可完成填表编程，操作人员不需具备专业计算机编程语言知识，使用简捷方便。操作软件采用填入式编程方法，专为国内用户开发。
ENJ2005-A半导体分立器件测试系统采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定的300uS。在PC窗口提示下输 入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。被测器件引脚接触自动判断功能。系统采用带有开尔文感应结构的测试工装，自动补偿由于系统内部及测试电 缆长度引起的压降，保证测试结果准确可靠。
ENJ2005-B半导体分立器件测试系统，支持电流阶梯升级至1250A。采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定的300uS。在PC窗口提示下输 入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。被测器件引脚接触自动判断功能。系统采用带有开尔文感应结构的测试工装，自动补偿由于系统内部及测试电 缆长度引起的压降，保证测试结果准确可靠。
